GET Electronique propose la mise en place d'une stratégie de test adaptée au besoin.
- sur la durée (répétitivité des tests dans le temps),
- sur la profondeur (couverture de test),
- sur le coût,
- sur la tracabilité.
Différentes techniques mises en place
- Le test individuel de composants (Trackers).
- Le test de cartes par apprentissage simple (Analyse de signatures).
- Le test complet de cartes (Testeurs à sondes mobiles multiples).
- Le test fonctionnel de cartes.
Exemples de tests réalisés
- Relevé de signatures
- Test FNODE (mesure des variations du courant)
- Test PWMON (mesure de composants commutables)
- Test AUTIC (mesure de courts-circuits)
- Test OPENFIX (mesure d'effet capacitif)
- Test THERMALSCAN (identification d'écarts de T°)
- Test BOUDARY-SCAN (test des liaisons entre composants)
- Test FLYSCAN procédé innovant qui consiste à coupler la technique du Boudary-scan avec les sondes mobiles afin de tester les connecteurs et les composants JTAG
- Test FONCTIONNEL
- Test de CONTINUITE
- Test IN-SITU
- REVERSE schématique
Moyens utilisés
